Ｘ線分析の進歩　|　アグネ技術センター

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	Ｘ線分析の進歩 23 (Ｘ線工業分析 27集) 日本分析化学会・Ｘ線分析研究懇談会　編 1992年3月31日　初版1刷 ISBN　978-4-900041-14-1 C3043 発行　アグネ技術センター B5判・並製／322頁定価 4,950円（本体価格4,500円＋税 10%） →厚さ：23mm，重さ：820g
本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。
［目次］ Ⅰ.放射光：総説　　1.フォトン・ファクトリー―放射光の特徴とその利用― 　　　(岩崎博) Ⅱ.Ｘ線放射スペクトル：報文　　2.DV-Xα法によるＸ線分光の理論的研究　　　(足立裕彦・中松博英・向山毅) 　　3.ホウ素化合物のBKX線放射スペクトル　　　(上月秀徳・元山宗之) 　　4.電子線励起によるKβ/Kα強度比の化学的効果　　　(玉木洋一) Ⅲ.EXAFSその他：報文　　5.銅K殻XAENSによる酸化物超伝導体の電子構造の研究　　　(小杉信博) 　　6.実験室における蛍光検出EXAFS測定法の開発　　　(田路和幸・宇田川康夫) 　　7.Ｘ線光音響イメージング法による差像解析　　　(河野慎一・升島努・豊田太郎・塩飽秀啓・安藤正海・雨宮慶幸・樋上照男・横山友・　　　今井日出夫・玉井元・角山政之・平賀忠久・和田幾江・池田佳代) Ⅳ.Ｘ線回折：報文　　8.カリウム型ゼオライトLの結晶構造のカリウム含有量依存性　　　(平野正義・加藤正直・浅田栄一・堤和男・白石敦則) 　　9.Ｘ線回折法による表面粗さ測定　　　(小坂雅夫) 　　10.冷却型CCDセンサーによる粉末Ｘ線回折図形の計測　　　(加藤正直・岡倉正次・服部敏明・榎本茂正・水島廣・木村安一) 　　11.イメージングプレートの原理とＸ線分析分野への応用　　　(森信文・宮原諄二) Ⅴ.蛍光Ｘ線分析：報文　　12.分子軌道法を用いたS₈Kβ蛍光Ｘ線スペクトルの計算　　　(河合潤・橋本健朗) 　　13-1.蛍光Ｘ線分析法におけるガラスビードの強熱減量(LOI)，強熱増量(GOI)，希釈率補正　　　　　―その1 　　　(片岡由行・庄司静子・河野久征) 　　13-2.蛍光Ｘ線分析法におけるガラスビードの強熱減量(LOI)，強熱増量(GOI)，希釈率補正　　　　　―その2 　　　(庄司静子・山田興毅・古澤衛一・河野久征・村田守) 　　14.蛍光Ｘ線分析法による薄膜および多層薄膜の濃度・膜厚測定　　　(河野久征・荒木庸一・片岡由行・村田守) 　　15.初期須恵器の産地測定法　　　(三辻利一) 　　16.全反射蛍光Ｘ線分析法による微量分析　　　(宇高忠・迫幸雄・小島真次郎・岩本財政・河野浩・渥美純) Ⅵ.Ｘ線光電子分光：報文　　17.軟Ｘ線マイクロビームの生成と微小領域の光電子分光(μ-XPS) 　　　(二宮健・長谷川正樹) 　　18.モノクロＸ線光電子分光における帯電制御の方法　　　(伊藤秋男・松尾勝) 　　19.制限視野型Ｘ線光電子分光法の微小部分析への応用　　　(山下孝子・古主泰子・山本公) 　　20.スモールスポット型Ｘ線光電子分光法におけるピーク形状の改善　　　(塩沢一成) Ⅶ.既掲載Ｘ線粉末回折図形索引 1990年Ｘ線分析のあゆみ　　1.Ｘ線分析関係文献集　　2.Ｘ線分析関係国内講演会開催状況　　3.Ｘ線分析研究懇談会講演会開催状況　　4.Ｘ線分析研究懇談会規約　　5.｢Ｘ線分析の進歩｣投稿手引き　　6.(社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会1992年度幹事名簿　　7.｢Ｘ線粉末回折図形集｣の収集に御協力のお願い Ⅸ.Ｘ線分析関係機器資料 Ⅹ.既刊総目次 ⅩⅠ.Ｘ線分析の進歩23 索引

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