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Ｘ線分析の進歩 25
(Ｘ線工業分析 29集)

日本分析化学会・Ｘ線分析研究懇談会　編

1994年3月31日　初版1刷
ISBN　978-4-900041-26-4 C3043
発行　アグネ技術センター
B5判・並製／464頁
定価 6,050円（本体価格5,500円＋税 10%）

→厚さ：24mm，重さ：1,130g

本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。
［目次］

Ⅰ.Ｘ線分光分析
　　1. イメージング・プレート発光Ｘ線分光器による鉄化合物のＫ Ｘ線測定 [ノート]
　　　(河合 潤・前田邦子)

　　2. 鉄，コバルト化合物におけるＫ Ｘ線のスペクトル変化 [報文]
　　　(玉木洋一)

　　3. アンジュレータ光を用いたホウ素化合物の選択励起Ｂ Ｋα発光スペクトル [ノート]
　　　(村松康司・尾嶋正治・河合 潤・加藤博雄)

　　4. Ｘ線分光法による微量成分分析の妨害線：放射的オージェサテライト [報文]
　　　(前田邦子・河合 潤)

Ⅱ.Ｘ線回折
　　5. デバイ写真における結晶粒度と格子面間隔測定精度の関係 [報文]
　　　(藤井信之・小崎 茂)

　　6. イメージングプレート検出器を用いた迅速液体・アモルファスＸ線回折装置の
　　　　　製作と性能評価 [報文]
　　　(伊原幹人・山口敏男・脇田久伸・松本知之)

　　7. Ｘ線光学系のXRDパターンへの依存性―集中法と平行法との比較― [報文]
　　　(横川忠晴・大野勝美)

　　8. 大気環境汚染物質の炭素鋼板腐食に及ぼす影響：Ｘ線による評価 [技術報告]
　　　(田村久恵・桑野三郎・久米一成・宇井倬二)

　　9. 粉末回折法による8-アミノカプリル酸の構造解析
　　　(エルンスト ホルン・倉橋正保)

　　10. パーマロイ合金表面自然酸化層の膜厚測定と構造解析 [報文]
　　　(山本恭之・千原 宏・横山雄一・内田信也)

　　11. ゼオライトＡのカチオンサイトの熱処理法依存性 [報文]
　　　(加藤正直・守屋英朗・大串達夫)

Ⅲ.EXAFS
　　12. アモルファス窒化ケイ素化合物のXAFS測定 [報文]
　　　(梅咲則正・上條長生・田中 功・新原晧一・八田厚子・谷口一雄)

　　13. Cu K EXAFS, O K放射スペクトルによるCu2Oの酸化状態解析 [報文]
　　　(元山宗之・上月秀徳・石原マリ)

　　14. XAFSによる炭化ケイ素・窒化ケイ素薄膜の構造解析 [報文]
　　　(今村元泰・島田広道・松林信行・葭村雄二・佐藤利夫・西嶋昭生)

　　15. 放射光を用いたオージェ電子収量法によるXAFS測定
　　　　　―状態別分析および元素選択性の応用― [報文]
　　　(松林信行・島田広道・今村元泰・葭村雄二・佐藤利夫・西嶋昭生)

　　16. in situ電気化学セルを用いた蛍光XAFS法とその応用 [報文]
　　　(山口敏男・光永俊之・吉田暢生・脇田久伸・藤原 学・松下隆之・池田重良・野村昌治)

Ⅳ.蛍光Ｘ線分析
　　17. 蛍光Ｘ線分析法による半導体薄膜の膜厚・組成分析 [報文]
　　　(河野久征・小林 寛)

　　18. 蛍光Ｘ線膜厚計へのFP法の適用 [報文]
　　　(田村浩一・佐藤正雄・一宮 豊・高橋正則)

　　19. 蛍光Ｘ線法によるⅣ族炭化物，窒化物および硼化物中の
　　　　　含有不純物の定量 [報文]
　　　(金子啓二・平林正之・熊代幸伸・伊原英雄)

Ⅴ.全反射蛍光Ｘ線分析
　　20. 全反射蛍光Ｘ線分析用高感度Ｘ線分光器 [報文]
　　　(宇高 忠・迫 幸雄・河野 浩・庄司 孝・清水和明・宮崎邦浩・嶋崎綾子)

　　21. 単色Ｘ線励起全反射蛍光Ｘ線分析における見かけ上の
　　　　　不純物ピークと発生原因 [報文]
　　　(薬師寺健次・大川真司・吉永 敦・原田仁平)

　　22. 微小角入射微細Ｘ線による多層薄膜の分析 [技術報告]
　　　(武田叡彦・乗松哲夫・吉田敏明)

　　23. クリーンルーム内環境評価への全反射蛍光Ｘ線分析法の応用 [ノート]
　　　(大杉哲也・京藤倫久)

　　24. 全反射蛍光Ｘ線分析による酸化膜中および界面の重金属評価 [報文]
　　　(杉原康平・畑 良文・藤井眞治・原田好員)

　　25. 全反射蛍光Ｘ線分析法による急性ヒ素中毒マウス組織中の
　　　　　微量ヒ素の定量 [報文]
　　　(中井 泉・守口正生・鈴木 拓・河嶌拓治・下條信弘)

Ⅵ.EPMA
　　26. EPMAによる花崗岩質岩石中の鉱物の化学分析 [報文]
　　　(平岡義博)

　　27. EPMAにおける状態分析への波形分離法の応用 [報文]
　　　(高橋秀之・奥村豊彦・瀬尾芳弘)

　　28. EPMAによるSi系セラミック摺動材の状態分析 [報文]
　　　(今田康夫)

Ⅶ.XPS
　　29. 低速アルゴン中性粒子エッチング法のXPSへの応用 [報文]
　　　(飯島善時・松本成夫・山田貴久・平岡賢三)

　　30. Hartree-Fock-Slater法を用いた非化学量論比組成CuInSe2の
　　　　　電子状態解析 [報文]
　　　(古曵重美・坂井全弘・和田隆博・瀬恒謙太郎・八田真一郎)

　　31. 種々のドナーセットを有する銅(Ⅱ)錯体のＸ線光電子スペクトルによる解析 [報文]
　　　(藤原 学・松下隆之・池田重良)

　　32. 構造の異なるニッケル(Ⅱ)錯体のＸ線光電子スペクトルにおけるサテライトピークと
　　　　　電子配置との関係 [報文]
　　　(藤原 学・繁実章夫・松下隆之・池田重良)

　　33. Ｘ線光電子分光測定中ヘキサシアノ金属塩の固溶体中鉄(Ⅲ)，マンガン(Ⅲ)の
　　　　　還元速度 [報文]
　　　(奥 正興)

　　34. ポリマーパウダー表面のXPSによる解析 [報文]
　　　(福島 整・丸山達哉・山田宏一・高橋栄美)

　　35. XPSによるシリコーンセパレータ表面の解析 [ノート]
　　　(野口直也)

　　36. 高性能光電子分光装置ESCA-300の特長を利用した応用例 [技術報告]
　　　(佐々木澄夫)

Ⅷ.その他
　　37. Ｘ線励起電流測定による大気中での表面分析 [報文]
　　　(早川慎二郎・鈴木説男・河合 潤・合志陽一)

　　38. STM/AFMによるイオンエッチング表面の粗さ評価と深さ方向分解能 [報文]
　　　(小島勇夫・藤本俊幸)

　　39. Csl蛍光膜の作製と顕微断層撮影への応用 [報文]
　　　(山内 泰・岸本直樹)

Ⅸ.既掲載Ｘ線粉末回折図形索引

Ⅹ.1992年Ｘ線分析のあゆみ
　　1. Ｘ線分析関係文献集
　　2. Ｘ線分析関係国内講演会開催状況
　　3. Ｘ線分析研究懇談会講演会開催状況
　　4. Ｘ線分析研究懇談会規約
　　5. ｢Ｘ線分析の進歩｣投稿の手引き
　　6. (社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会1994年度幹事名簿
　　7. ｢Ｘ線粉末回折図形集｣の収集にご協力のお願い

ⅩⅠ.Ｘ線分析関係機器資料

ⅩⅡ.既刊総目次

ⅩⅢ.Ｘ線分析の進歩25 索引

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