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X線分析の進歩 25
(X線工業分析 29集)

日本分析化学会・X線分析研究懇談会 編

1994年3月31日 初版1刷
ISBN 978-4-900041-26-4 C3043
発行 アグネ技術センター
B5判・並製/464頁
定価 5,840円(本体価格5,500円+税 8%)

→厚さ:24mm,重さ:1,130g

本書は昭和39年(1964年)に『X線工業分析』として発刊され、第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるX線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

[目次]

T.X線分光分析
  1. イメージング・プレート発光X線分光器による鉄化合物のK X線測定 [ノート]
   (河合 潤・前田邦子)

  2. 鉄,コバルト化合物におけるK X線のスペクトル変化 [報文]
   (玉木洋一)

  3. アンジュレータ光を用いたホウ素化合物の選択励起B Kα発光スペクトル [ノート]
   (村松康司・尾嶋正治・河合 潤・加藤博雄)

  4. X線分光法による微量成分分析の妨害線:放射的オージェサテライト [報文]
   (前田邦子・河合 潤)

U.X線回折
  5. デバイ写真における結晶粒度と格子面間隔測定精度の関係 [報文]
   (藤井信之・小崎 茂)

  6. イメージングプレート検出器を用いた迅速液体・アモルファスX線回折装置の
     製作と性能評価 [報文]
   (伊原幹人・山口敏男・脇田久伸・松本知之)

  7. X線光学系のXRDパターンへの依存性―集中法と平行法との比較― [報文]
   (横川忠晴・大野勝美)

  8. 大気環境汚染物質の炭素鋼板腐食に及ぼす影響:X線による評価 [技術報告]
   (田村久恵・桑野三郎・久米一成・宇井倬二)

  9. 粉末回折法による8-アミノカプリル酸の構造解析
   (エルンスト ホルン・倉橋正保)

  10. パーマロイ合金表面自然酸化層の膜厚測定と構造解析 [報文]
   (山本恭之・千原 宏・横山雄一・内田信也)

  11. ゼオライトAのカチオンサイトの熱処理法依存性 [報文]
   (加藤正直・守屋英朗・大串達夫)

V.EXAFS
  12. アモルファス窒化ケイ素化合物のXAFS測定 [報文]
   (梅咲則正・上條長生・田中 功・新原晧一・八田厚子・谷口一雄)

  13. Cu K EXAFS, O K放射スペクトルによるCu2Oの酸化状態解析 [報文]
   (元山宗之・上月秀徳・石原マリ)

  14. XAFSによる炭化ケイ素・窒化ケイ素薄膜の構造解析 [報文]
   (今村元泰・島田広道・松林信行・葭村雄二・佐藤利夫・西嶋昭生)

  15. 放射光を用いたオージェ電子収量法によるXAFS測定
     ―状態別分析および元素選択性の応用― [報文]
   (松林信行・島田広道・今村元泰・葭村雄二・佐藤利夫・西嶋昭生)

  16. in situ電気化学セルを用いた蛍光XAFS法とその応用 [報文]
   (山口敏男・光永俊之・吉田暢生・脇田久伸・藤原 学・松下隆之・池田重良・野村昌治)

W.蛍光X線分析
  17. 蛍光X線分析法による半導体薄膜の膜厚・組成分析 [報文]
   (河野久征・小林 寛)

  18. 蛍光X線膜厚計へのFP法の適用 [報文]
   (田村浩一・佐藤正雄・一宮 豊・高橋正則)

  19. 蛍光X線法によるW族炭化物,窒化物および硼化物中の
     含有不純物の定量 [報文]
   (金子啓二・平林正之・熊代幸伸・伊原英雄)

X.全反射蛍光X線分析
  20. 全反射蛍光X線分析用高感度X線分光器 [報文]
   (宇高 忠・迫 幸雄・河野 浩・庄司 孝・清水和明・宮崎邦浩・嶋崎綾子)

  21. 単色X線励起全反射蛍光X線分析における見かけ上の
     不純物ピークと発生原因 [報文]
   (薬師寺健次・大川真司・吉永 敦・原田仁平)

  22. 微小角入射微細X線による多層薄膜の分析 [技術報告]
   (武田叡彦・乗松哲夫・吉田敏明)

  23. クリーンルーム内環境評価への全反射蛍光X線分析法の応用 [ノート]
   (大杉哲也・京藤倫久)

  24. 全反射蛍光X線分析による酸化膜中および界面の重金属評価 [報文]
   (杉原康平・畑 良文・藤井眞治・原田好員)

  25. 全反射蛍光X線分析法による急性ヒ素中毒マウス組織中の
     微量ヒ素の定量 [報文]
   (中井 泉・守口正生・鈴木 拓・河嶌拓治・下條信弘)

Y.EPMA
  26. EPMAによる花崗岩質岩石中の鉱物の化学分析 [報文]
   (平岡義博)

  27. EPMAにおける状態分析への波形分離法の応用 [報文]
   (高橋秀之・奥村豊彦・瀬尾芳弘)

  28. EPMAによるSi系セラミック摺動材の状態分析 [報文]
   (今田康夫)

Z.XPS
  29. 低速アルゴン中性粒子エッチング法のXPSへの応用 [報文]
   (飯島善時・松本成夫・山田貴久・平岡賢三)

  30. Hartree-Fock-Slater法を用いた非化学量論比組成CuInSe2
     電子状態解析 [報文]
   (古曵重美・坂井全弘・和田隆博・瀬恒謙太郎・八田真一郎)

  31. 種々のドナーセットを有する銅(U)錯体のX線光電子スペクトルによる解析 [報文]
   (藤原 学・松下隆之・池田重良)

  32. 構造の異なるニッケル(U)錯体のX線光電子スペクトルにおけるサテライトピークと
     電子配置との関係 [報文]
   (藤原 学・繁実章夫・松下隆之・池田重良)

  33. X線光電子分光測定中ヘキサシアノ金属塩の固溶体中鉄(V),マンガン(V)の
     還元速度 [報文]
   (奥 正興)

  34. ポリマーパウダー表面のXPSによる解析 [報文]
   (福島 整・丸山達哉・山田宏一・高橋栄美)

  35. XPSによるシリコーンセパレータ表面の解析 [ノート]
   (野口直也)

  36. 高性能光電子分光装置ESCA-300の特長を利用した応用例 [技術報告]
   (佐々木澄夫)

[.その他
  37. X線励起電流測定による大気中での表面分析 [報文]
   (早川慎二郎・鈴木説男・河合 潤・合志陽一)

  38. STM/AFMによるイオンエッチング表面の粗さ評価と深さ方向分解能 [報文]
   (小島勇夫・藤本俊幸)

  39. Csl蛍光膜の作製と顕微断層撮影への応用 [報文]
   (山内 泰・岸本直樹)

\.既掲載X線粉末回折図形索引

].1992年X線分析のあゆみ
  1. X線分析関係文献集
  2. X線分析関係国内講演会開催状況
  3. X線分析研究懇談会講演会開催状況
  4. X線分析研究懇談会規約
  5. 「X線分析の進歩」投稿の手引き
  6. (社)日本分析化学会X線分析研究懇談会1994年度幹事名簿
  7. 「X線粉末回折図形集」の収集にご協力のお願い

]T.X線分析関係機器資料

]U.既刊総目次

]V.X線分析の進歩25 索引

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