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X線分析の進歩 27
(X線工業分析 31集)

日本分析化学会・X線分析研究懇談会 編

1996年3月31日 初版1刷
ISBN 978-4-900041-47-9 C3043
発行 アグネ技術センター
B5判・並製/353頁
定価 5,940円(本体価格5,500円+税 8%)

→厚さ:23mm,重さ:920g

本書は昭和39年(1964年)に『X線工業分析』として発刊され、第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるX線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

[目次]

T.X線の新たな応用:総説
  1. X線鏡面反射と放射光マイクロビームXRDについて
   (宇佐美勝久・平野辰巳)

  2. SPring-8による蛍光X線分析の新展開
   (早川慎二郎・合志陽一)

U.蛍光X線分析:報文
  3. 蛍光X線によるBi-Pb-Sr-Ca-Cu-O系超伝導体の組成解析法
   (金子啓二・平林正之・金子浩子・伊原英雄・寺田教男・岡 邦彦・石橋章司・田中康資)

  4. 超軽元素用エネルギー分散型検出器の開発とその応用(T)
   (田村浩一・佐藤正雄)

  5. 微小試料の面積補正法による定量分析
   (古澤衛一・山田興毅・荒木庸一・森 正道)

  6. 全反射蛍光X線分析用標準試料に関する一考察
   (森 良弘・佐近 正・島ノ江憲剛)

V.X線回折:報文
  7. X線回折法による合金化溶融亜鉛めっき鋼板の合金相の厚さ分析
     ―結晶質多層膜各層の厚さ分析法―
   (森 茂之・松本義朗)

  8. Zn-Cr電析合金の相構造解析
   (藤村 亨・片山道雄・下村順一)

  9. Ge(111)4結晶平行法による2層薄膜の膜厚測定
   (横川忠晴・大野勝美)

  10. X線回折法によるストリート・ドラッグの由来類別
   (南 幸男・宮沢 正・中島邦生・肥田宗政・三井利幸)

  11. 粉末X線回折によるアデニンの結晶構造解析―圧力誘起相変態の解明―
   (倉橋正保・後藤みどり・本田一匡)

  12. 粉末X線回折法による1,4-ベンゼンジチオールの結晶構造解析
   (エルンスト ホルン・倉橋正保)

W.X線光電子分光分析:報文
  13. 種々の配位構造を有する亜鉛(U)錯体のX線光電子およびオージェ電子スペクトル
   (藤原 学・松下隆之・池田重良)

  14. C60X線光電子スペクトルのC1sピーク形状解析
   (飯島善時・佐藤智重・佐藤哲也・平岡賢三)

  15. 放射光を光源とする励起エネルギー可変XPS深さ方向分析
   (島田広道・松林信行・今村元泰・佐藤利夫・西嶋昭生)

  16. 電解合成複合酸化物膜のXPSによる解析
   (佐々木 毅・越崎直人・松本泰道)

X.EPMA:報文
  17. 固体ターゲットにおける電子後方散乱及び特性X線発生分布の
     モンテカルロ・シミュレーション
   (小沼弘義)

  18. 2元,3元散布図分析のEPMAデータ解析への応用
   (高橋秀之・大槻正行・高倉 優・近藤裕而・奥村豊彦)

Y.状態分析:報文
  19. ムライト前駆体中のアルミニウムの配位数分析:XAFS法と27Al MAS NMR法との比較
   (池田好夫・横山拓史・山下誠一・渡部徳子・脇田久伸)

  20. 蛍光XAFS法による生体鉱物の非破壊状態分析
   (沼子千弥・中井 泉)

  21. 亜鉛流動焙焼炉焼鉱の硫黄の化学状態―焙焼炉操業に関連して―
   (河合 潤・北島義典・朝木善次郎)

  22. X線励起ルミネッセンス収量法XAFSにおける自己吸収効果
   (広瀬勇秀・早川慎二郎・合志陽一)

  23. PIXEスペクトル自動解析プログラムの開発と希土類鉱石分析への応用
   (下岡秀幸・西山文隆・廣川 健)

Z.技術ノート
  24. 回折X線による顕微画像
   (下村周一・中沢弘基)

[.既掲載X線粉末回折図形索引

\.1994年X線分析のあゆみ
  1.X線分析関係文献集
  2.X線分析関係国内講演会開催状況
  3.X線分析研究懇談会講演会開催状況
  4.X線分析研究懇談会規約
  5.「X線分析の進歩」投稿の手引き
  6.(社)日本分析化学会X線分析研究懇談会1995年度幹事委員名簿
  7.「X線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願い

X.軟X線放射分光に関するワークショップ
  1.Theory of Molecular X-Ray Emission Spectroscopy
  2.Analytical Expressions of Atomic Wave Functions and Molecular Integrals for the X-Ray Transition Probabilities of Molecules
  3.B K-emission Spectra of Ion-plated Thin Film and Mechanically Milled Powders of Boron Nitride
  4.Application of TXRF in Silicon Wafer Manufacturing

]T.X線分析関連機器資料

]U.既刊総目次

]V.X線分析の進歩27 索引

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