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X線分析の進歩 33 X線分析の進歩 33
(X線工業分析 37集)

日本分析化学会・X線分析研究懇談会 編

2002年3月30日 初版1刷
ISBN 978-4-900041-97-4 C3043
発行 アグネ技術センター
B5判・並製/ 386頁
定価 5,940円(本体価格5,500円+税 8%)

→厚さ:25mm,重さ:900g

本書は昭和39年(1964年)に『X線工業分析』として発刊され、第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるX線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

[目次]

T.総説・解説
  1. フォトンファクトリーにおける放射光蛍光X線分析―過去・現在・未来―
   (高エネ機構物構研)飯田厚夫

  2. 偏光と位相に関連した放射光X線利用研究
   (高エネ機構物構研,東大工総合試験所,東大工**)平野馨一,沖津康平
     百生 敦**,雨宮慶幸**

  3. 蛍光X線分析法による高融点炭化物,窒化物およびホウ化物中の含有不純物の定量
   (産総研,横浜国大)金子啓二,熊代幸伸,平林正之

  4. X線回折法による表面・界面の解析
   (東大物性研)高橋敏男

  5. K,Ca,Rb,Srによる須恵器窯の分類
   (大谷女子大,東北芸術工大)三辻利一,松井敏也

  6. X線検出器の最近の動向について
   (仁木工芸)安藤真悟

U.全反射,反射率,定在波,ナノ,表面・界面
  7. 楔形Siフィルターを用いた放射光励起全反射蛍光X線分析における増感効果
   (立命館大SRセ,広島大工,立命館大理工**)西勝英雄,早川慎二郎,白石晴樹**,園部将実**,杉山 進**,鳥山壽之**

  8. 最小二乗法によるX線反射率解析値の信頼性評価法の検討
   (日立製作所日立研,日立協和エンジ,日立製作所ストレージシステム**)上田和浩,百瀬秀人,平野辰巳,宇佐美勝久,今川尊雄**

  9. 銀ナノ微粒子多層膜における周期多層化とその評価
   (産総研,大阪市大,物質・材料研**)桑島修一郎,吉田郵司,安部浩司,谷垣宣孝,八瀬清志,長澤 浩,桜井健次**

  10. 多層膜における全電子収量X線定在波法を用いた層構造の面内分布測定の試み
   (原研関西研,NTTアドバンステクノロジ,ローレンスバークリ国立研**)村松康司,竹中久貴,E.M.GULLIKSON**,R.C.C.PERERA**

  11. 多点マッピング全反射蛍光X線分析によるシリコンウェハ全面平均濃度分析に関する
     統計学的検討
   (新日鐡先端研,東大院工,ワッカー・NSCE)森 良弘,上村賢一,飯塚悦功

  12. X線反射率法による表面層解析における密度傾斜効果のシミュレーション
   (物質・材料研)水沢まり,桜井健次

  13. 反射X線小角散乱法による薄膜中のナノ粒子・空孔サイズ測定
   (理学電機X線研)表 和彦,伊藤義泰

  14. Si(001)表面のSurface Melting現象のin situ観察
   (新日鐵先端研)木村正雄,碇 敦

  15. X線反射率測定用屈折透過型X線フィルタの試作と有用性について
   (京大院工,京大ベンチャービジネスラボ**)籠 恵太郎**,石田謙司*,**
     堀内敏寿,松重和美**

V.顕微鏡
  16. New Capabilities and Application of Compact Source-optic Combinations
   (X-ray Optical Systems)P.BLY,T.BIEVENUE,J.BURDETT,Z.W.CHEN,N.GAO,D.M.GIBSON,W.M.GIBSON,H.HUANG,I.Yu.PONOMAREV

  17. 動画撮像可能な蛍光X線顕微鏡の開発
   (物質・材料研)桜井健次

W.化学状態分析
  18. Mn(U)のKβ’およびKb5蛍光X線スペクトルの強度比変化
   ―アンジュレータ放射光による微量化学状態分析の可能性―
   (物質・材料研)江場宏美, 桜井健次

  19. V Kβ線を用いた電子線衝撃X線状態分析の検討
   (宮城教育大)菅原健久,玉木洋一

X.装置
  20. 銅めっき法とX線マイクロプローブとを組み合わせたSi(Li)素子の特性評価
   (国立環境研,レイテック,トーニック**,神奈川大工***)久米 博,尾鍋秀明,小日向 貢**,柏木利介***

  21. 飛行時間型光電子分光装置の開発
   (島津製作所基盤技術研)岩本 隆,原田高宏,森久祐司,南雲雄三,藤田 真,林 茂樹

Y.データ処理
  22. EXEFS解析ソフト
   (理学電機)田口武慶

  23. 蛍光X線スペクトルの移動差し引きによる塩素の定量
   (信越化学)国谷譲治

Z.土壌・環境分析
  24. 小型蛍光X線分析装置を用いた土壌中の重金属分析
   (鋼管計測,アワーズテック)永田昌嗣,宇高 忠,椎野 博,吉川裕泰

  25. 新開発の3ビーム励起源とシリコンドリフト検出器を備えた
   可搬型蛍光X線分析装置によるシナイ半島出土遺物のその場分析の試み
   (東理大理,アワーズテック)中井 泉,山田祥子,寺田靖子,中嶋佳秀,高村浩太郎,椎野 博,宇高 忠

  26. エネルギー分散型蛍光X線分析による環境試料分析のための基礎検討
   (京大工,京大院工)古谷好章,真鍋晶一,河合 潤

[.既掲載X線粉末回折図形索引 No.1(Vol.8)〜No.10(Vol.18)(物質名と化学式名による)

\.2001年X線分析のあゆみ
  1.X線分析関係国内講演会開催状況
  2.X線分析関係懇談会講演会開催状況
  3.X線分析研究懇談会規約
  4.「X線分析の進歩」投稿の手引き
  5.(社)日本分析化学会X線分析研究懇談会2001年度運営委員名簿
  6.「X線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願い

].X線分析関連機器資料

]T.既刊総目次

]U.X線分析の進歩33 索引

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