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X線分析の進歩 36 X線分析の進歩 36
(X線工業分析 40集)

日本分析化学会・X線分析研究懇談会 編

2005年3月31日 初版1刷
ISBN 978-4-901496-24-7 C3043
発行 アグネ技術センター
B5判・並製/ 476頁
定価 5,940円(本体価格5,500円+税 8%)

→厚さ:25mm,重さ:940g

本書は昭和39年(1964年)に『X線工業分析』として発刊され、第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるX線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

[目次]

T.X線分析討論会第40回記念講演会企画依頼寄稿
  1.[解 説]環境リサイクルを巡る経済産業省の取り組み(電気電子製品中の有害物質対策等)
   (経産省産業技術環境局)中村啓子

  2.[報 文]エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)による土壌中の砒素・鉛含有量評価
   (産総研地質情報研究部門,国土防災技術)丸茂克美,氏家 亨,江橋俊臣

  3.[解 説]蛍光X線分析用標準物質
   (明大理工)中野和彦,中村利廣

  4.[解 説]放射光軟X線状態分析の研究・技術動向
   (原研関西研)村松康司

  5.[解 説]蛍光X線分析法における近年の要素技術の進歩と特殊な測定方法
   (大阪市大院工,PRESTO-JST)辻 幸一

U. 解説・総説
  6.モンテカルロ・シミュレーションの電子線マイクロアナライザー分析への応用
   (日軽分析セ)長田義男

  7.X線回折理論と結晶構造解析の系譜および高木-Taupin 型X線多波動力学的回折理論の導出と検証
   (東大院工総合研究機構)沖津康平

  8.高速・高分解能粉末X線回折装置の評価
   (スペクトリス)山路 功

  9.湿式化学分析と組み合わせた蛍光X線による半導体材料の分析
   (NTTアドバンステクノ)籔本周邦,植松重和,篠塚 功,石ア 享

  10.乾電池式X線源と蛍光X線分析
   (京大院工,京都府警科捜研**)井田博之*,**,河合 潤

  11.広域X線発光微細構造
   (京大院工)河合 潤

  12.半導体検出器
   (京大院工)河合 潤,村上浩亮,小山徹也

V.報 文:有害元素分析
  13.水溶液中の微量有害物質の分析
   (理学電機工業)森山孝男,山田康治郎,河野久征

  14.散乱X線の理論強度を用いる樹脂中カドミウム,鉛の蛍光X線分析
   (島津総合分析試験セ)越智寛友,南竹里子,渡邊信次

  15.乾電池小型蛍光X線装置による環境標準試料の蛍光X線分析
   (京大院工,京都府中小企業総合セ)石井秀司,宮内宏哉,日置 正,河合 潤

  16.Cd Ka線を用いた蛍光X線分析法による玄米中sub-ppmレベルのCdの迅速定量
   (東理大理,スペクトリス)永山裕之,小沼亮子,保倉明子,中井 泉,松田賢士,水平 学,赤井孝夫

W.報 文:方法・装置
  17.YBa2Cu3O7-x単結晶におけるX線回折像に現れるスペックルと超伝導相転移の相関
   (北九州市大国際環境工学,兵庫県立大院物質理,JASRI**,原研中性子利用セ***)鈴木 拓,高野秀和,竹内晃久**,上杉健太朗**,朝岡秀人***,鈴木芳生**

  18.「微分型」X線ラマン散乱分光の試み
   (東北大多元研,JASR,東大生研**)林 久史,河村直己,七尾 進**

  19.キノア種子のX線元素マッピングにおける自己吸収の影響の低減
   (大阪市大院工,大阪市大院生活科学*,Inst. of Low Energy Nucl. Phys.**,PRESTO-JST)江本哲也,小西洋太郎,X. Ding**,辻 幸一

  20.全反射蛍光X線法によるシリコンウェハ表面汚染の全面迅速マッピング分析
 (シルトロニック,理学電機工業*,東大院工**)森 良弘,上村賢一,河野 浩,山上基行,清水康裕,鬼塚義延,飯塚悦功**

  21.卓上型放射光装置“みらくる”を用いた重元素の蛍光X線分析
   (立命館大放射光生命科学研究セ,立命館大理工**)西勝英雄,山田廣成*,**,平井 暢**,小川浩太郎**

  22.マルチエネルギー強力X線光源強度の加速電圧依存性とその経時変化
   (京大院工,東大生研,理学電機工業**,リガク***,大阪工大情報科学****,東理大理工*****)石井秀司,尾張真則,堂井 真**,塚本勝美***,高橋貞幸***,志水隆一****,二瓶好正*****

X.報 文:化学状態分析
  23.全蛍光収量法で測定した軟X線吸収スペクトルの電子状態計算による形状解析:粉末および水溶液中のアルミン酸ナトリウムの構造解析
   (福岡大高機能研,Univ. Nevada**,LBNL***,福岡大理****)松尾修司, P.Nachimuthu**,***,D.W.Lindle**,R.C.C.Perera***,脇田久伸*,****

  24.XPSおよびXANES法を用いた金属ポルフィリン錯体の電子状態分析
   (福岡大理,福岡大高機能研)山重寿夫,松尾修司*,栗崎 敏,脇田久伸*

  25.二核および三核鉄(V)シッフ塩基錯体のX線光電子スペクトル
   (龍谷大理工)根来 世,浅田英幸,藤原 学,松下隆之

  26.二酸化マンガンに吸着した金(V)イオンの還元挙動:XPSによる研究
   (九大院理,福岡大理**,福岡大高機能研***)大橋弘範,江副博之**,山重寿夫**,岡上吉広, 松尾修司***,栗崎 敏**,脇田久伸**,***,横山拓史

Y.既掲載X線粉末回折図形索引 No.1(Vol.8)〜No.10(Vol.18)(物質名と化学式名による)

Z.2004年X線分析のあゆみ
  1.X線分析関係文献集
  2.X線分析関係国内講演会開催状況
  3.X線分析研究懇談会講演会開催状況
  4.X線分析研究懇談会規約
  5.「X線分析の進歩」投稿の手引き
  6.(社)日本分析化学会X線分析研究懇談会2005年度運営委員名簿
  7.「X線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願い

[.X線分析関連機器資料

\.既刊総目次

].X線分析の進歩36 索引

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