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X線分析の進歩 37 X線分析の進歩 37
(X線工業分析 41集)

日本分析化学会・X線分析研究懇談会 編

2006年3月31日 初版1刷
ISBN 978-4-901496-30-8 C3043
発行 アグネ技術センター
B5判・並製/ 444頁
定価 5,940円(本体価格5,500円+税 8%)

→厚さ:22mm,重さ:910g

本書は昭和39年(1964年)に『X線工業分析』として発刊され、第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるX線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

[目次]

追悼 浅田榮一先生
  1.浅田先生の御業績
   (長岡高専)加藤正直

I.解説・総説
  2.ごみ焼却に伴うダイオキシン類生成における飛灰中銅の挙動
   (京大院工)高岡昌輝

  3.2005年X線分析関連文献総合報告
   河合 潤,桜井健次,辻 幸一,林 久史,松尾修司,森 良弘,渡部 孝

II.報文:XRF
  4.散乱X線の理論強度を用いる蛍光X線分析
   (島津総合分析試験セ)越智寛友,渡邊信次

  5.植物中の重金属の簡易蛍光X線分析
   (兵庫県立大院工)小寺浩史,西岡 洋,村松康司
  6.微量重金属分析用蛍光X線分析装置の土壌環境評価への応用
   (産総研地質情報研究部門,国土防災技術)丸茂克美,氏家 亨,小野木有佳,根本尚大,松野賢吉
  7.高感度蛍光X線分析法を用いた土壌中の有害重金属の分析
   (X線技研,大阪電通大**)村岡弘一,宇高 忠**,谷口一雄*,**
  8.小型高電圧X線管を用いた環境試料中有害重金属カドミウムの分析
   (大阪電通大,JASRI,徳島大総合科学**)俣野有美,宇高 忠,二宮利男,野村惠章,一瀬悠里,沼子千弥**,谷口一雄
  9.蛍光X線による銅合金中有害金属の迅速分析
   (スペクトリス,古河電工)松田賢士,水平 学,山本信雄
  10.高感度点滴ろ紙と蛍光X線分析を用いた土壌溶出溶液の分析
   (理学電機工業)森山孝男,東馬苗子,山田康治郎,河野久征
  11.ELV指令に対する銅合金中有害元素の蛍光X線分析
   (理学電機工業,キッツメタルワークス)山田康治郎,小辻秀樹,閑歳浩平,森山孝男,山田 隆,河野久征
  12.炭素添加熱分解性窒化ホウ素の放射光軟X線状態分析
   (兵庫県立大院工,GEスペシャルティ・マテリアルズ,LBNL**)村松康司,藤井清利,J.D.Denlinger**,E.M.Gullikson**,R.C.C.Perera**
  13.除電用小型X線管を用いた蛍光X線測定
   (京大院工)河合 潤,松田亘司,林 豊秀
  14.市販Si-PINホトダイオードのX線検出器としての検討
   (大阪電通大)田辺謙造,青山大督,小原一徳,谷口一雄
  15.日用品の蛍光X線分析
   (京都工繊大繊維,京都工繊大環境科セ)山田 武,山田 悦

III.報 文:XPS
  16.全反射X線光電子分光法によるWS2/C多層薄膜の解析
   (日本電子)飯島善時,大濱敏之,田澤豊彦
  17.XPS法によるテトラアザ配位子を用いたp 電子雲拡張効果の電子状態分析
   (福岡大理,福岡大高機能研)山重寿夫,井上芳樹,松尾修司,栗崎 敏,脇田久伸
  18.イオン散乱・光電子分光による6H-SiC清浄表面の構造解析
   (立命館大理工,パリ第6・7大学 ナノサイエンス研)城戸義明,竹内史典,福山 亮,松原佑典,星野 靖

<IV. 報 文:X線回折・反射率>
  19.試料水平型X線反射率測定装置への人工多層膜モノクロメータの適用
   (学習院大理,立命館大放射光生命科学研セ)矢野陽子,飯島孝夫
  20.X線回折法における簡易定量プログラムの精度
   (京都府中小企業技術セ)宮内宏哉,中村知彦,日置 正
  21.エネルギー分散型ポータブル粉末X線回折装置の開発とエジプトの遺跡発掘現場におけるその場分析
   (東理大理,大阪電通大,早稲田大国際教養**)熊谷和博,保倉明子,中井 泉,宇高 忠,谷口一雄,吉村作治**

V.報 文:SEM, EPMA, マイクロビームX線
  22.水素吸蔵合金のSEM-EDXによる元素分布分析
   (京大院工)武田匡史,石井秀司,田邊晃生,河合 潤
  23.シリコンドリフト線検出器による走査電子顕微鏡でのSEM-EDX
   (京大院工)石井秀司,河合 潤
  24.ポリキャピラリーX 線レンズの特性評価
   (大阪市立大院工, 住友金属工業**,PRESTO-JST***)田中啓太,堤本 薫,荒井正浩**,辻 幸一*,***
  25.放射光マイクロビームを用いたヒ素高集積植物モエジマシダの根における蛍光X線イメージングと蛍光XANES測定
   (東理大理,フジタ**,SPring-8・JASRI***)北島信行*,**,小沼亮子,保倉明子,寺田靖子***,中井 泉

VI.報 文:XAFS
  26.Ga化合物の寿命幅フリー・価数選別XAFS
   (東北大多元研,PRESTO-JST**)林 久史*,**,佐藤 敦,宇田川康夫
  27.Ti添加 b - FeOOHさびのXAFS解析
   (コベルコ科研,神戸製鋼材料研,大阪教育大理科教育**)世木 隆,中山武典,石川達雄**,稲葉雅之,渡部 孝
  28.三次元偏光光学系蛍光X線装置による大気浮遊粒子状物質の高感度組成分析とXANESによる硫黄の状態分析
   (東理大理,スペクトリス)南齋雄一,保倉明子,松田賢士,水平 学,中井 泉

VII.新刊紹介
  29.「蛍光X線分析の実際」
   脇田久伸
  30.“X-Rays for Archaeology”,“Non-Destructive Examination of Cultural Objects−Recent Advances in X-Ray Analysis−(文化財の非破壊調査法−X線分析の最前線−)”
   河合 潤
  31.“Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage Materials”
   河合 潤

VIII.既掲載X線粉末回折図形索引 No.1(Vol.8)〜No.10(Vol.18)(物質名と化学式名による)

IX.2005年X線分析のあゆみ
  1.X線分析関係国内講演会開催状況
  2.X線分析研究懇談会講演会開催状況
  3.X線分析研究懇談会規約
  4.「X線分析の進歩」投稿の手引き
  5.(社)日本分析化学会X線分析研究懇談会2006年度運営委員名簿

X.X線分析関連機器資料

XI.既刊総目次

XII.X線分析の進歩37 索引


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