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金属ナノ組織解析法 金属ナノ組織解析法

宝野和博・弘津禎彦 編

2006年 5月 1日 初版1刷
ISBN 978-4901496-31-5 C3043
発行 アグネ技術センター
A5判・並製/ 424頁
定価 5,940円(本体価格5,000円+税)

→厚さ:21mm,重さ:600g

金属系材料のナノ組織を電子顕微鏡、アトムプローブ、X線回折の手法を用いて解析するための手引書。
各手法を理解し的確に選択できるよう解説。
材料開発現場の研究者、金属組織の研究を目指す学生向き。

[目次]

序章
 0.1 ナノ組織とは(宝野和博)
 0.2 金属ナノ組織の作製法と特性(宝野和博)
 0.3 ナノ組織解析法とは(宝野和博)

第1章 電子顕微鏡法
 1.1 最先端電子顕微鏡の基礎知識と現状(田中信夫)
   1.1.1 はじめに
   1.1.2 物質中での電子線の振る舞いと回折現象
   1.1.3 電子顕微鏡の構成と機能
   1.1.4 電子顕微鏡の分解能
   1.1.5 最先端透過電子顕微鏡の現状
   1.1.6 最先端走査透過電子顕微鏡の現状
   1.1.7 さらに高性能化へ向けての装置開発
   1.1.8 まとめ
 1.2 電子回折の基礎(T)−運動学的理論−(弘津禎彦)
   1.2.1 はじめに
   1.2.2 電子線の物質による散乱
   1.2.3 結晶からの回折と逆格子
   1.2.4 回折強度,ラウエ関数
   1.2.5 結晶構造と回折強度
   1.2.6 非晶質による回折(ハロー回折)
   1.2.7 おわりに
 1.3 電子回折の基礎(U)−動力学的理論−(松村 晶)
   1.3.1 はじめに
   1.3.2 結晶中の入射電子の振る舞い
   1.3.3 振り子の解とブロッホ波
   1.3.4 多波励起の取扱い
 1.4 回折コントラスト法(中村吉男)
   1.4.1 はじめに
   1.4.2 回折コントラストと明視野・暗視野像
   1.4.3 明・暗視野像観察と制限視野回折
   1.4.4 最近の電子顕微鏡事情と明・暗視野像観察
   1.4.5 ホローコーン照明暗視野像
   1.4.6 まとめ
 1.5 高分解能電子顕微鏡法(T)(田中信夫)
   1.5.1 はじめに
   1.5.2 TEMの対物レンズの機能
   1.5.3 TEMの分解能
   1.5.4 格子像(lattice image)
   1.5.5 構造像(structure image)
   1.5.6 高分解能透過電子顕微鏡の結像理論
   1.5.7 球面収差補正TEM
   1.5.8 動力学的回折理論について
 1.6 高分解能電子顕微鏡法(U)(弘津禎彦)
   1.6.1 はじめに
   1.6.2 構造周期の結像
   1.6.3  クラスター構造の高コントラスト観察例
   1.6.4 ナノ結晶・ナノ粒子の観察例
   1.6.5 おわりに
 1.7 電子線動径分布解析法(弘津禎彦)
   1.7.1 はじめに
   1.7.2 制限視野回折による動径分布解析
   1.7.3 制限視野回折動径分布解析の例
   1.7.4 ナノビーム動径分布解析
   1.7.5 ナノビーム電子線解析の例
   1.7.6 おわりに
 1.8 収束ビーム回折法(松村 晶)
   1.8.1 はじめに
   1.8.2 収束電子ビーム回折に現れる模様は?
   1.8.3 収束ビーム回折の材料解析への応用例
   1.8.4 まとめ
 1.9 暗視野走査透過電子顕微鏡法(田中信夫)
   1.9.1 はじめに
   1.9.2 走査透過電子顕微鏡(STEM)
   1.9.3 HAADF-STEM像のコントラスト
   1.9.4 HAADF-STEMの結像
   1.9.5 HAADF-STEMの局所組成や状態分析機能
   1.9.6 HAADF-STEMの応用例
   1.9.7 まとめと今後の展望
 1.10 エネルギー分散型X線分光法(松村 晶)
   1.10.1 はじめに
   1.10.2 X線の発生
   1.10.3 X線の測定
   1.10.4 X線分析の空間分解能
   1.10.5 局所組成の定量分析
   1.10.6 走査像観察機能を併用した元素マッピング
   1.10.7 おわりに
 1.11 ALCHEMI-HARECXS法(松村 晶)
   1.11.1 はじめに
   1.11.2 動力学的電子回折と電子チャンネリング
   1.11.3 ALCHEMIによる多元化合物の原子配列の解析
   1.11.4 HARECXS法
   1.11.5 おわりに
 1.12 電子エネルギーフィルター法(進藤大輔)
   1.12.1 はじめに
   1.12.2 非弾性散乱電子の検出 ―スペクトロメータ
   1.12.3 電子エネルギー損失スペクトルから得られる情報
   1.12.4 電子エネルギーフィルターの種類と特徴
   1.12.5 エネルギーフィルター法の応用
   1.12.6 おわりに
 1.13 走査ローレンツ電子顕微鏡法(中村吉男)
   1.13.1 はじめに
   1.13.2 走査ローレンツ電子顕微鏡の原理と構成
   1.13.3 ナノ組織を持つ磁性材料と局所磁化分布
   1.13.4 走査ローレンツ電子顕微鏡の長所と欠点
 1.14 電子線ホログラフィー(進藤大輔)
   1.14.1 はじめに
   1.14.2  電子線ホログラフィーの原理
   1.14.3 内部ポテンシャル・電場の評価
   1.14.4 磁束線・磁区構造の観察
   1.14.5  磁気相変態の評価への応用
   1.14.6 おわりに

第2章 アトムプローブ分析法
 2.1 アトムプローブ分析法(宝野和博)
   2.1.1 はじめに
   2.1.2 電界放射と電界放射顕微鏡
   2.1.3 電界イオン顕微鏡(FIM)
   2.1.4 FIM試料作製法
   2.1.5 像解釈の基礎
   2.1.6 1次元アトムプローブ
   2.1.7 3次元アトムプローブ(3DAP)
   2.1.8 濃度プロファイルと相分離
   2.1.9 ラダーダイヤグラムとクラスターの検出
   2.1.10 応用例
   2.1.11 おわりに

第3章 X線解析法
 3.1 放射光X線回折・分光技術(松原英一郎)
   3.1.1 はじめに
   3.1.2 元素選択性構造解析
   3.1.3 迅速X線回折測定
   3.1.4 X線全反射を利用した解析
   3.1.5 小角散乱測定
   3.1.6 高エネルギー単色X線回折法
   3.1.7 蛍光X線ホログラフィー法
 3.2 元素選択性構造解析(松原英一郎)
   3.2.1 はじめに
   3.2.2 X線異常散乱(AXS)法
   3.2.3 吸収端微細構造(EXAFS)法
   3.2.4 回折EXAFS(DAFS)法
   3.2.5 まとめ
 3.3 X線・中性子小角散乱(大沼正人)
   3.3.1 はじめに
   3.3.2 小角散乱の原理
   3.3.3 散乱強度と相関関数
   3.3.4 基本的なプロファイル解析法
   3.3.5 サイズ分布がある系のプロファイル解析
   3.3.6 粒子の体積分率が大きな場合の解析手法
   3.3.7  小角散乱の測定
   3.3.8 種々の物質の小角散乱測定例
【付録】1.補足説明
    2.各式の導出
    2.プロファイルフィッテイング
 3.4 X線吸収微細構造(XAFS)法(桜井健次)
   3.4.1 はじめに
   3.4.2 XAFSの原理と解析法
   3.4.3 いろいろなXAFS測定技術
   3.4.4 ナノ材料の解析への応用例
   3.4.5 おわりに
 3.5 X線反射法(桜井健次)
   3.5.1 はじめに
   3.5.2 X線反射率の理論式
   3.5.3 X線反射率の測定
   3.5.4 放射光利用の得失
   3.5.5 X線反射率のデータ解析
   3.5.6 応用例
   3.5.7 おわりに
 3.6 蛍光X線ホログラフィー法(橋幸生)
   3.6.1 はじめに
   3.6.2 蛍光X線ホログラフィーの原理
   3.6.3 双画像問題と多重エネルギー法
   3.6.4 FePt薄膜
   3.6.5 基板温度の異なるFePt薄膜
   3.6.6 まとめ

おわりに
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