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X線工業分析 2集
絶版

日本分析化学会・X線分析研究懇談会 編

1965年1月20日 初版1刷
ISBN ―
発行 南江堂
B5判・並製/210頁
定価―――(本体価格1,000円+税)
本書は昭和39年(1964年)に『X線工業分析』として発刊され、第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるX線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。

[目次]

基礎編
  螢光X線分析法−現在の限度と将来発展の傾向
   (L.S.Birks)

  X線スペクトルによる化学分析
   (佐川 敬)

  RIを線源とした吸収分析
   (野崎 正)

応用編
  長面間隔を利用する高級脂肪酸のX線回折による分析
   (後藤みどり・浅田栄一)

  VO2.17の粉末法によるX線回折に関する研究
   (武内次夫・深沢 力・伊藤醇一)

  RI線源を用いたセメント原料のけい光X線分析
   (今村 弘・内田 薫・富永 洋)

  コンプトン散乱を利用する炭化水素の元素分析法
   (長谷川恵之・梶川正雄・岡本伸和・浅田栄一)

  ゼノタイム鉱中のY,U,Th,SnおよびTiのけい光X線分析
   (堤 健一)

  重油中のイオウのけい光X線分析法
   (古川満彦・柳ヶ瀬健次郎)

  Soller Slitを用いた光学系のPeak Profile
   (新井智也)

  ARL式X線カントメーターの構造およびこれによる分析時間
   (築山 宏・岡下英男)

  銅系合金の螢光X線分析
   (石原義博・古賀守考・横倉清治・内田昭二)

  溶液法による鉱山中の銅、亜鉛、鉛の螢光X線分析
   (西村耕一・河崎 豊)

  U.S.NAval Research研究所における電子プローブ型マイクロ分析の研究
   (L.S.Birks)

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