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X線分析の進歩 26 (X線工業分析 30集)
日本分析化学会・X線分析研究懇談会 編
1995年3月31日 初版1刷
ISBN 978-4-900041-37-0 C3043
発行 アグネ技術センター
B5判・並製/323頁
定価 6,050円(本体価格5,500円+税 10%)
→厚さ:22mm,重さ:830g
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本書は昭和39年(1964年)に『X線工業分析』として発刊され、第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるX線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。 |
[目次]
T.蛍光X線分析:報文
1. 蛍光X線分析ガラスビード法による定量分析の高精度化 (ガラスビード法の高精度化と真度の向上T) (山本恭之・小笠原典子・柚原由太郎・横山雄一)
2. 蛍光X線分析ガラスビード法の標準試料作成・自動評価システム (ガラスビード法の高精度化と真度の向上U) (山本恭之・小笠原典子・中田昭雄・庄司静子)
3. 低希釈率ガラスビード法による岩石の主成分と微量成分分析 (山田康治郎・河野久征・村田 守)
4. 人工累積膜による超軟X線分光の問題点 (小林 寛・戸田勝久・河野久征)
5. 斜入射条件下における取り出し角依存 ―蛍光X線分析法による真空蒸着薄膜および溶液滴下―乾燥薄膜の分析 (辻 幸一・水戸瀬賢悟・広川吉之助)
6. 高分解能2結晶型蛍光X線装置による酸化物薄膜の状態分析 (升田裕久・太田能生・森永健次)
7. 蛍光X線分析による鋼板表面酸素の定量分析 (妻鹿哲也)
8. ネオジムとアルミニウムをドープしたシリカゲル中のネオジムの局所構造: XAFSによる研究 (横山拓史・藤山 毅・吉田暢生・脇田久伸)
9. オンラインSi付着量計の開発[技術報告] (黒住重利・松浦直樹)
U.X線回折:報文
10. Ni基超耐熱合金の高温下でのγ/γ'格子定数ミスフィットの精密測定 (横川忠晴・大野勝美・原田広史・山縣敏博)
11. イメージングプレート迅速X線回折法による高温高圧水の構造解析 (山中弘次・大園洋史・山口敏男・脇田久伸)
12. 高角度2結晶X線回折法による単結晶評価 (副島雄児・山田浩志・呂 志力・岡崎 篤)
13. 表面状態と視斜角入射X線回折図形 (小坂雅夫)
14. 構造予測技術を用いた粉末回折構造解析―オルトニトロ安息香酸の結晶構造― (倉橋正保)
15. 粉末回折法による1,2-シクロヘキサンジオンジオキシム-ニッケル(U)錯体の 結晶構造解析 (エルンスト ホルン・倉橋正保)
16. X線回折定性分析作業における知的支援[技術報告] (新井 浩・魚田 篤・石田秀信)
V.EXAFS
17. XAFSによる亜鉛―ホルマザン錯体の構造解析 (本田一匡・小島勇夫・惠山智央・藤本敏幸・内海 昭)
18. 地球科学試料中の硫黄のXAFS測定と2次元状態分析への応用 (寺田靖子・河嶌拓治・尾形 潔・中野朝雄・中井 泉)
19. X線励起電流検出によるフライアッシュ中硫黄のXAFS測定 (鄭 松岩・早川慎二郎・河合 潤・古谷圭一・合志陽一)
W.X線光電子光分析:報文
20. ごみ焼却炉排ガス処理用バグフィルタ材のX線光電子分光分析 (藤田一紀・福田祐治)
21. 高分子化合物C1s光電子スペクトル形状の解析 (飯島善時・佐藤哲也・平岡賢三・一戸裕司・二瓶好正)
22. 擬四面体構造を有する銅(U)シッフ塩基錯体のX線光電子スペクトル (池田重良・藤原 学・杖村由佳・松下隆之)
23. X線照射による鉄(V)錯体の固相還元反応 (藤原 学・松下隆之・池田重良)
X.EPMA
24. Cu-In-Se膜のEPMAによる定量分析 (刈谷哲也・白方 祥・磯村滋宏)
Y.その他
25. ドーパントによるCuInSe2光電子スペクトル変化のクラスター計算を用いた検討 (古曵重美・福島 整・坂井全弘・瀬恒謙太郎・八田真一郎)
Z.既掲載X線粉末回折図形索引
[.1993年X線分析のあゆみ
1.X線分析関係文献集
2.X線分析関係国内講演会開催状況
3.X線分析研究懇談会講演会開催状況
4.X線分析研究懇談会規約
5.「X線分析の進歩」投稿の手引き
6.(社)日本分析化学会X線分析研究懇談会1995年度幹事名簿
7.「X線粉末回折図形集」の収集にご協力のお願い
\.X線分析関係機器資料
].既刊総目次
]T.X線分析の進歩26 索引
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